Q&Aコーナー:回答

セラミックコンデンサの静電容量はどのように測定するのですか?

セラミックコンデンサの静電容量は、LCRメータ(測定原理は下記参照)、インピーダンスアナライザなどの測定器を使用して測ります。

当社では、セラミックコンデンサの公称容量を以下の条件で測定しています。
(測定条件はカタログの信頼性欄にも記載しております。カタログはこちら。)

*1 代表的な仕様を記載しています。詳細は個別の仕様書をご確認ください。
*2 熱処理:試料を 150+0/-10℃ に1時間放置し、標準状態に 24±2時間放置した後、測定する。
  温度補償用 高誘電率系
一般用 高周波用 C ≦ 10uF C > 10uF
前処理 なし 熱処理 (150℃ 1hr) (*2)
測定周波数 1MHz±10% 1kHz±10% 120±10Hz
測定電圧 (*1) 0.5 ~ 5Vrms 1±0.2Vrms 0.5±0.1Vrms
バイアス印加 なし

周波数、温度、電圧などの測定条件により、静電容量が変化しますのでご注意ください。

個別商品の測定器や測定条件については、納入仕様書に記載されていますので、仕様書をご確認ください。
データシート記載の特性取得に関する測定器、測定条件についてはこちらをご覧ください。

LCRの測定原理

多くの測定器メーカーのLCRメータでは、図のような自動平衡ブリッジ法と呼ばれる測定法が採用されており、被測定物と既知抵抗Rに流れる電流が同一で、A点での電位が0になるように自動調整されます。このときの被測定物と既知抵抗Rにかかる二つの電圧値から、LCRメータは被測定物の複素インピーダンスを計測値として算出します。セラミックコンデンサの静電容量は、この複素インピーダンスのリアクタンス成分から算出されます。

LCRの測定原理

詳しい測定原理につきましては、測定器メーカー様のサイトをご参照ください。