Q&Aコーナー:回答

セラミックコンデンサの信頼性試験にはどのような項目がありますか?

当社で行っているセラミックコンデンサの信頼性試験には、以下の項目があります。

信頼性項目 説明
使用温度範囲
使用可能な温度範囲
保存温度範囲 保存可能な温度範囲
定格電圧
使用可能な電圧上限
耐電圧(端子間)
規定内の過電圧印加による絶縁破壊や破損がないこと
絶縁抵抗
規定の抵抗値を下回らないこと
静電容量(許容差) 常温における静電容量が規定内に収まること
Q または 誘電正接 (tan δ) 常温における Q の下限、または tan δの上限
静電容量温度特性 使用温度範囲において静電容量値の温度変化が規定値以内に収まっていること
耐基板まげ性 規定の基板の歪により、本体の外観に異常がなく、静電容量が規定以上に変化しないこと
端子電極固着力 規定内の物理的外圧により、端子電極の剥離やその徴候がないこと
抗折強度 規定内の物理的外圧により、本体の破損や損傷がないこと
はんだ付け性 はんだ付けの際に端子電極にはんだが付くこと
はんだ耐熱性 はんだ付けにおける高温にさらされた後に、外観に異常がなく、各種電気特性に規定以上の変化がないこと
温度サイクル 使用温度範囲の上限と下限の温度環境下に交互に規定回数さらされた後に、外観に異常がなく、各種電気特性に規定以上の変化がないこと
耐湿性(定常状態) 高湿度環境に設置(規定時間)した際に、外観に異常がなく、各種電気特性に規定以上の変化がないこと
耐湿負荷 高湿度環境において電圧負荷を加えた場合に、外観に異常がなく、各種電気特性に規定以上の変化がないこと
高温負荷 使用最高温度において電圧負荷を加えた場合に、外観に異常がなく、各種電気特性に規定以上の変化がないこと

各項目の詳細は、カタログをご覧ください。

なお、個別製品の信頼性につきましては、納入仕様書で必ずご確認ください。